供应UMS100—JDM 硅片结深测量系统

本系统为UMS100 影像测量系统上二次开发的**于结深测量的系统: 


本系统适用于: 

砂轮磨槽法光学测量系统 
圆弧定理深度换算 
杂质扩散层基本特征参数 

本软件系统特点: 

实时影像测量,无须拍照后测量
自动测量,无须鼠标取点或取边
**,实时,**,**
实时多参数统计,同时处理多个管制项目:较大值,较小值,平均值,方差,较差,标准差,离散系数
客户**QA/QC报表系统,采用智能化选择性数据输出技术
实现“待测工件—测量参数—**报告—品管统计”数据流自动化

测量工具: 
1.     **测量界面 
直接选取,无须鼠标取边取点 
2.     测量设置界面 

可对测量线圈的方式方法参数进行设置,设置后可重复**测量线圈,无须多次设置

测量数据:测量数据显示与软件界面上,并可通过软件一键直接导入至EXCEL中

**报告:测量结束可生成**报告,报告可定制